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翘曲度测试

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翘曲原理

       由于各种封装材料的热膨胀系数(CTE,Coefficient of Thermal Expansion)不同, IC芯片和PCB板在回流焊过程中会发生程度不同的翘曲变形,进而影响产品的焊接可靠性。因此,通过测量样品在回流焊过程中的翘曲度和共面度,能提前预判产品在回流焊过程中存在的失效风险。


共面度(Coplanarity) :反映器件焊锡球或引脚相对于基准面的平整度

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u焊锡球共面度受到器件翘曲度和焊锡球尺寸一致性、焊锡球变形的综合影响

u用于评估器件在SMT过程中的焊接可靠性

 

翘曲度(Warpage):反映器件自身弯曲的程度和方向。

 翘曲度原理.png

u用于对比不同批次器件的质量

u用于分析器件因翘曲变形导致的内应力和可靠性风险

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u应用范围:

       基板封装生产与研发,基板材料开发,相机模组可靠性,汽车电子可靠性。

u应用案例:

       CEMAR可靠性实验室翘曲(Warpage)测试设备,可针对芯片、光学器件及PCB等进行翘曲度测试,优化回流焊(SMT)参数设定,提升SMT焊接质量,减少因不良焊接质量导致的可靠性问题和成本。

uCEMAR特色服务优势:

       CEMAR可靠性实验室测翘曲的方式简单高效,不仅能够获得芯片、光学器件及PCB等样品的翘曲信息,还能观察样品因为升降温可能带来的变形或断裂,并可以结合有限元仿真服务进一步提升产品寿命。

检测设备.png

翘曲度测试表格更改 (1).png


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CORES9100a-测量案例.png

CORES 9100a 测量案例

(备注:展示案例来源于设备供应商)


TherMoirePS200-测量案例.png

TherMoire PS200 测量案例

(备注:展示案例来源于设备供应商)

测试原理.png

测试原理.PNG

更多服务请下载附件:CEMAR常规测试及科技服务项目清单.pdf